N9000 Series BMS Test Modular Battery Simulator

N9000 시리즈 BMS 테스트 모듈형 배터리 시뮬레이터

N9036-06-01

6V/±1A/36CH Battery simulator 

Voltage accuracy：0.5mV

NB101-06-01-B    9EACH

N9000 시리즈는 고실시간, 고동기화, 고출력 측정 및 제어 플랫폼으로, N9000 측정 및 제어 섀시와 다양한 모듈로 구성됩니다. N9000은 4U 높이와 19인치 너비의 표준 섀시로, 배터리 아날로그 모듈, 프로그래머블 저항 모듈, 고전압 전원 모듈 등 다양한 유형의 모듈을 삽입할 수 있으며, 섀시에는 10개의 슬롯 측정 및 제어 모듈이 통합될 수 있습니다. 모듈 간 전기적 격리를 제공하며, N9000 시리즈는 로컬/원격 제어 및 동기화 트리거 기능을 지원하여 다중 모듈 고속 동기화 제어를 실현할 수 있습니다. 이 플랫폼은 다중 채널, 고무결성, 고출력 자동화 테스트 및 측정 시나리오에 널리 적용될 수 있습니다.

NB101 시리즈는 고정밀, 듀얼 쿼드런트 프로그래머블 배터리 시뮬레이션 모듈로, 전압 정확도가 0.1mV에 이르며 μA 수준의 전류 측정이 가능합니다. 전력 모드, SOC 시뮬레이션, 시퀀스 테스트, 그래프 및 결함 시뮬레이션과 같은 다양한 테스트 기능이 장착되어 있습니다. 이 모듈은 BMS HIL 테스트 시스템, AFE 칩, 에너지 저장, 전기차, 전기 이륜/삼륜차, 기지국 전원 공급 등 다양한 BMS 테스트 애플리케이션 요구를 충족할 수 있습니다.

NB102 시리즈는 고정밀, 다중 채널 프로그래머블 저항 모듈로, 저항 범위는 0Ω~11.11MΩ이며 프로그래밍 정확도는 0.1%까지 도달합니다. 유연한 설계로 12/24/36 채널을 지원하며 해상도는 1Ω까지 가능합니다. 이 모듈은 NTC 저항기 및 저항 센서와 같은 시뮬레이션 테스트 시나리오에 널리 사용될 수 있습니다.

특징

● 고속 응답, 고속 동기화, 고출력 측정 및 제어 섀시

● 배터리 시뮬레이션, 온도 시뮬레이션, 프로그래머블 전원 공급 등 다양한 모듈

● 36 채널의 단일 셀 시뮬레이션, 전압 정확도 최대 0.5mV

● 36 채널의 온도 시뮬레이션, 해상도 1Ω

● 36 채널의 결함 시뮬레이션, μA 수준의 전류 측정

● LAN, CANFD 통신 제어 지원, LAN 듀얼 인터페이스 지원

● DBC 파일 가져오기 지원

기능 및 장점

모듈형 설계로 편리한 조작 및 유연한 확장

N9000 시리즈는 다채널 모듈형 측정 및 제어 플랫폼입니다. 표준 섀시는 36 채널의 단일 셀 시뮬레이션, 36 채널의 배터리 결함 시뮬레이션 및 36 채널의 온도 시뮬레이션을 통합할 수 있어 사용자의 공간을 효과적으로 절약합니다. 배터리 시뮬레이션을 위한 4 채널 단일 모듈, 온도 시뮬레이션을 위한 12/24/36 채널 옵션 단일 모듈이 제공됩니다. 여러 모델을 통해 사용자는 실제 필요에 따라 제품을 선택할 수 있어 이후 확장이 편리합니다.

N9000 배터리 시뮬레이터 모듈형 설계

고속 응답, 고속 동기화, 높은 처리량 데이터

고실시간, 고동기화 측정 및 제어 플랫폼으로서, N9000 시리즈는 기가비트 LAN 및 CANFD 통신, 하드웨어 동기 트리거 및 고속 동기 클록을 지원하며, 명령 응답 속도 ≤1ms, 다채널 동기화 ≤200μs를 제공합니다. 이는 BMS HIL과 같은 고속 시뮬레이션 테스트에 특히 적합합니다.

N9000 고성능 운영 능력

고정밀, BMS 및 AFE 칩 트렌드에 부합

AFE 칩은 BMS의 핵심 구성 요소로, 관리가 점점 더 정밀해짐에 따라 AFE 칩과 BMS의 전압 취득 정확도가 점점 더 높아지고 있습니다. NGI는 2016년부터 0.1mV 초고정밀 배터리 시뮬레이터를 출시하여 업계에서 널리 인정받아 AFE 칩 테스트의 첫 번째 선택이 되었습니다. N9000 측정 및 제어 플랫폼에서 출시된 모듈형 배터리 시뮬레이터는 0.1mV 및 0.5mV 전압 정확도를 지원하여 업계의 고정밀 테스트 요구를 충족할 수 있습니다.

응용 분야

● 에너지 저장 BMS

● 자동차 BMS

● AFE/BMS 칩

● BMS HIL 테스트